结构内核自检(SCST)库

SCST

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结构内核自检(SCST)库是用于运行时检测MCU内核中的永久性硬件故障的软件产品。SCST库作为独立环境的安全芯片(SEooC)开发，包含用于原子测试的测试代码，这些代码通过预定义测试向量激励MCU内核子模块，并观察和评估其逻辑响应。

SCST库可检测单点故障或潜在故障，但SCST仅检测永久性故障。它主要用于未采用支持永久故障检测安全机制的MCU，例如延迟锁步技术：

  • 单点故障检测：应在运行时定期执行SCST。
  • 潜在故障检测：SCST应在设备启动或关闭时运行。

框图

SCST架构块和执行图

Architecture Block And Execution Diagram
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特性

基本信息

  • 功能安全符合ISO26262标准，高达ASIL B级
  • 旨在达到90%的诊断覆盖率(DC)

测试各种MCU内核子模块

  • 数据通路单元：ALU、乘法器
  • 分频器(如适用)
  • 加载/存储单元
  • 指令解码器
  • 转发逻辑(如适用)
  • 协处理器，如浮点单元(FPU)(如适用)

支持的器件

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